ICT

Der In-Circuit-Test (ICT) ist eines der Prüfverfahren elektronischer Baugruppen und bestückter Leiterplatten in der Elektronikfertigung.

Hierbei wird die bestückte Leiterplatte, nachdem sie auf bzw. in einen speziellen Prüfadapter gelegt wurde, auf Fehler in der Leiterbahnführung (wie Kurzschlüsse oder Unterbrechungen), Lötfehler und Bauteilefehler geprüft. Auch können ganze Schaltungsblöcke (Cluster) getestet werden.